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電子芯片濕熱老化測試箱環(huán)境溫變試驗(yàn)箱廠

發(fā)布時(shí)間：2024-08-03

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簡要描述：

電子芯片濕熱老化測試箱環(huán)境溫變試驗(yàn)箱廠
小型高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品簡介：小型高低溫試驗(yàn)箱優(yōu)化設(shè)計(jì),占地空間小，不受地域空間限制，并采用大視窗觀察窗口,試驗(yàn)產(chǎn)品狀態(tài)可視化更強(qiáng)；采用抽屜式大容量水箱,試驗(yàn)時(shí)間長,并易拆卸清洗；采用 7″TFT真彩LCD觸摸屏，比其它屏更大，更直觀，操作更簡單，運(yùn)行更穩(wěn)定

產(chǎn)品咨詢服務(wù)電話：0769-83886585

詳細(xì)介紹

電子芯片濕熱老化測試箱環(huán)境溫變試驗(yàn)箱廠

低溫試驗(yàn)箱可以用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。

電子芯片濕熱老化測試箱環(huán)境溫變試驗(yàn)箱廠

二，高低溫試驗(yàn)箱廠家高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)型號和尺寸（也可按客戶要求生產(chǎn)）（單位:mm）：
型號 Y-HE-80G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 450×500×400 外形尺寸：650×1500×950
型號 Y-HE-150G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×600×500 外形尺寸：750×1600×1050
型號 Y-HE-225G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×750×600 外形尺寸：1000×1650×1200
型號 Y-HE-408G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×850×800 外形尺寸：1100×1750×1400