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可編程高低溫試驗(yàn)箱用途:
應(yīng)用于國防工業(yè),航天工業(yè).自動(dòng)化零組件,汽車部件,電子電器零組件,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱.耐寒.耐干性能及 研發(fā).品質(zhì)管理工程之試驗(yàn)規(guī)范.
適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn)。
可編程高低溫試驗(yàn)箱性能指標(biāo):
1.溫度范圍: A:0℃～150℃，B:-20℃～150℃，C:-40℃～150℃，D:-60℃～150℃，E:-70℃～150℃
2.溫度波動(dòng)度: ≤±0.5℃
3.溫度均勻度：≤±2℃
4.精度范圍: 設(shè)定精度±0.1℃，指示精度±0.1℃，解析度±0.1℃
5.升溫速率: 1.0～3.0℃/min
6.降溫速率: 0.7～1.0℃/min
可編程高低溫試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法； GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法 GB/T11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件； GB/T2423.22-2002試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法；
IEC60068-2-1：2007 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法； GJB150.4 低溫試驗(yàn)；
IEC60068-2-2：2007 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法； GJB150.3 高溫試驗(yàn)；
IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷； IEC68-2-2 試驗(yàn)B：干熱；
